進(jìn)口精密智能高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試要求

進(jìn)口精密智能高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試要求

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

高低溫試驗(yàn)箱該設(shè)對(duì)電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)。

設(shè)備執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：

1、GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2、GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3、GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4、GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

5、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

6、GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法

7、GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

8、GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)

9、GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

10、IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
11、IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶(hù)需求進(jìn)行定制